Повернутися до подробиць випуску
ЗНАХОДЖЕННЯ ПАРАМЕТРІВ СКОРИГОВАНОЇ ЛІНІЇ ЕКСПОНЕНЦІАЛЬНОЇ АПРОКСИМАЦІЇ ЕКСПЕРИМЕНТАЛЬНИХ ДАНИХ ВИЯВЛЕНИХ ДЕФЕКТІВ ПРИ ОЦІНЮВАННІ КІЛЬКОСТІ ВТОРИННИХ ДЕФЕКТІВ ПРОГРАМНИХ ЗАСОБІВ
Завантажити
Завантажити PDF